先向静态存储器6116指定存储单元01H~04H写入一组数据04H~07H,再从这些单元读取数据,验证6116的存储和读写功能按1.实验目的2.实验原理3.实验步骤4.实验结果与分析5.结论6.建议与
实验目的:
1. 验证6116静态存储器的功能是否正常。
2. 学习如何向静态存储器写入数据和读取数据。
实验原理:
6116是一款32K×8位的静态存储器,采用TTL电平进行读写操作。本实验通过向存储器写入一组数据,然后再读取这些数据,以验证6116的存储和读写功能是否正常。
实验步骤:
1. 将6116的电源模块接入电路。
2. 向存储器写入一组数据04H~07H。具体操作如下:
a. 将6116的地址线A0、A1设置为低电平(0)。
b. 将数据线DA0~DA3设置为高电平(1)。
c. 将控制线CS置为低电平(0)。
d. 依次将要写入的数据04H、05H、06H、07H从数据线DA0~DA3传输到存储器的相应地址。
e. 每次写入一个数据后,将控制线CS置为高电平(1)并延时一段时间,以等待存储器刷新。
3. 从存储器读取刚刚写入的数据。具体操作如下:
a. 将6116的地址线A0、A1设置为低电平(0)。
b. 将数据线DA0~DA3设置为高电平(1)。
c. 将控制线CS置为低电平(0)。
d. 从数据线DA0~DA3读取数据,并将其显示在显示器上。
4. 按照上述步骤重复执行,以验证6116的存储和读写功能是否正常。
实验结果与分析:
通过实验,我们可以观察到以下现象:
1. 当向存储器写入数据时,如果控制线CS没有在写入每个数据之间置为高电平并延时一段时间,可能会导致数据丢失或出现错误。
2. 当从存储器读取数据时,如果控制线CS没有在读取每个数据之间置为高电平并延时一段时间,可能会导致数据读取不完整或出现错误。
3. 如果6116的电源模块或其他相关元件存在问题,可能会影响其存储和读写功能的正常工作。
结论:
通过本实验,我们验证了6116静态存储器的功能是否正常,并学会了如何向其写入数据和读取数据。在实际应用中,我们需要注意控制信号的正确处理,以确保数据的准确存储和读写。
1. 验证6116静态存储器的功能是否正常。
2. 学习如何向静态存储器写入数据和读取数据。
实验原理:
6116是一款32K×8位的静态存储器,采用TTL电平进行读写操作。本实验通过向存储器写入一组数据,然后再读取这些数据,以验证6116的存储和读写功能是否正常。
实验步骤:
1. 将6116的电源模块接入电路。
2. 向存储器写入一组数据04H~07H。具体操作如下:
a. 将6116的地址线A0、A1设置为低电平(0)。
b. 将数据线DA0~DA3设置为高电平(1)。
c. 将控制线CS置为低电平(0)。
d. 依次将要写入的数据04H、05H、06H、07H从数据线DA0~DA3传输到存储器的相应地址。
e. 每次写入一个数据后,将控制线CS置为高电平(1)并延时一段时间,以等待存储器刷新。
3. 从存储器读取刚刚写入的数据。具体操作如下:
a. 将6116的地址线A0、A1设置为低电平(0)。
b. 将数据线DA0~DA3设置为高电平(1)。
c. 将控制线CS置为低电平(0)。
d. 从数据线DA0~DA3读取数据,并将其显示在显示器上。
4. 按照上述步骤重复执行,以验证6116的存储和读写功能是否正常。
实验结果与分析:
通过实验,我们可以观察到以下现象:
1. 当向存储器写入数据时,如果控制线CS没有在写入每个数据之间置为高电平并延时一段时间,可能会导致数据丢失或出现错误。
2. 当从存储器读取数据时,如果控制线CS没有在读取每个数据之间置为高电平并延时一段时间,可能会导致数据读取不完整或出现错误。
3. 如果6116的电源模块或其他相关元件存在问题,可能会影响其存储和读写功能的正常工作。
结论:
通过本实验,我们验证了6116静态存储器的功能是否正常,并学会了如何向其写入数据和读取数据。在实际应用中,我们需要注意控制信号的正确处理,以确保数据的准确存储和读写。
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